SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
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基本信息
| 标准名称： | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 |
| 英文名称： | Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 石英晶体、压电元件 |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 1999-08-26 |
| 实施日期： | 1999-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草人： | 章怡、宋佩钰、邓鹤松、边一林 |
| 出版日期： | 1999-12-01 |
| 页数： | 16页 |
适用范围
本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础，适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元件 石英晶体 压电元件
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