作者:标准资料网 时间:2024-05-17 21:27:05   浏览:8537   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Rectifierdiodes
【原文标准名称】:分立的半导体器件器件和集成电路.整流二极管
【标准号】:BSIEC60747-2-2000
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2000-07-15
【实施或试行日期】:2000-07-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:疲劳试验;合格试验;二极管;验收检验;连续性试验;整流二极管;分立器件;半导体;可靠度;电子设备及元件;电学测量;电子工程;组件;元部件;电气工程;测量技术;常规检验;检验;极限(数学);额定值;集成电路;定义;定义;规范(验收);测量;作标记;符号;半导体器件
【英文主题词】:Acceptanceinspection;Components;Continuitytests;Definition;Definitions;Diodes;Discretedevices;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Fatiguetests;Inspection;Integratedcircuits;Limits(mathematics);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Qualificationtests;Ratings;Rectifierdiodes;Reliability;Routinechecktests;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Symbols
【摘要】:TobereadinconjunctionwithIEC60747-1
【中国标准分类号】:L43
【国际标准分类号】:31_080_10
【页数】:68P.;A4
【正文语种】:英语