SJ 20288-1993 半导体集成电路 JT54LS160(161、162、163、190、191、192、193)型LS-TTL计数器详细规范

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基本信息
标准名称:半导体集成电路 JT54LS160(161、162、163、190、191、192、193)型LS-TTL计数器详细规范
英文名称:detail specification for JT54LS160,JT54LS161,JT54LS162,JT54LS163,JT54LS190,JT54LS191,JT54LS192,JT54LS193 type counters of LS-TTL semiconductor integrated circuits
中标分类: 石油 >> 石油综合 >> 技术管理
发布部门:中华人民共和国电子工业部
发布日期:1993-05-11
实施日期:1993-07-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:国营八七八厂
起草人:孙人杰
出版社:电子工业出版社
出版日期:1993-06-01
页数:42页
适用范围

本规范规定了硅单片JT54LS160、JT54LS161、JT54LS162、JT54LS163、JT54LS190、JT54LS191、JT54LS192、JT54LS193型LS-TTL 计数器(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。

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所属分类: 石油 石油综合 技术管理
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringSurfaceSodium,Aluminum,Potassium,andIrononSiliconandEPISubstratesbySecondaryIonMassSpectrometry
【原文标准名称】:用次级离子质谱测定法(SIMS)测定表面钠,铝,钾-硅和EPI衬底的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1617-1998(2002)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:质谱学;金属材料;光谱测定法;试验方法
【英文主题词】:aluminum;iron;potassium;silicon;SIMS;sodium;surfacecontamination
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoversthedeterminationoftotalsodium,aluminum,potassium,andirononthesurfaceofmirror-polishedsinglecrystalsiliconandsiliconepisubstratesusings
【中国标准分类号】:H12
【国际标准分类号】:77_040_30
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:异丙威原药
英文名称:Isoprocarb technical
中标分类: 化工 >> 化肥、农药 >> 农药
ICS分类: 农业 >> 杀虫剂和其他农用化工产品
替代情况:原标准号GB 9560-88
发布日期:1997-03-11
实施日期:1998-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:10页
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所属分类: 化工 化肥 农药 农药 农业 杀虫剂和其他农用化工产品